- 應用材料公司今日發布了其市場領先的SEMVision?系列缺陷檢測和分類技術最新產品，助力尖端存儲和邏輯芯片的制造商提升生產力。最新的SEMVision G7系統，是目前市面上唯一具有高分辨率缺陷成像，以及經生產驗證、具有先進機器學習智能的DR-SEM*系統。它有助于芯片制造商更快對缺陷進行分類，找出根本原因并解決良率問題。 “由于將日趨復雜的新設計投入生產的難度越來越大，芯片制造商正在尋找加快產品面市和實現最優良率的方法。”應用材料公司副總裁兼工藝診斷及控制事業部總經理Ofer
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應用材料 SEMVision
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